为带给客户先进的技术，致力于亚太地区市场的领先高科技设备、材料及整合服务供货商—奇元裕公司于4月28日  SNEC展会中与AET Technologies共同筹办研讨会，除在会中AET Technologies所属AET Solar Tech技术专家分享氧含量检测技术及实时检测机台设备Oxymap之外，也特别邀请到法国光伏能源机构(INES)的首席研究专家说明快速量测氧含量的原理及掌握LID 光衰减的运用；此外，更带领大家深入探讨此一含氧检测技术实际运用在AL-BSF & PERC的情形。硅片及电池片重要业者皆与会出席，研讨会现场交流热烈。

 

近年来光伏市场持续成长，在全世界市场需求的推动下，各家厂商纷纷投入资源开发新一代技术。然而对光伏电池片制造商而言，取得有质量保障的硅片往往受限于现有检测技术与不利条件，例如特制的受测样本及长久的检测时间等。但随着PERC的兴起, LID光衰减的议题也愈受重视，有鉴于此，对硅片中氧含量的快速有效检测变得尤其重要。而AET Solar Tech 所提供的Oxymap 设备则可以直接检测量产硅片的氧含量并精准掌握LID光率减表现，研讨会中受到业界热烈回响与肯定, 并高度期待未来可协助业界掌握硅片质量、LID光衰减及LIR光还原工艺开发。

 

高效产品已是光伏业者争相追求的目标，奇裕大中华区总经理简聪明说：「感谢AET Technologies与奇元裕公司一同介绍先进技术方案给予大中华区客户。其Oxymap 氧含量检测技术，能协助客户了解如何改善其产品及工艺，进而提供高效产品；奇元裕将持续提供客户全方位的技术支持，并满足客户多元化的需求。」

 

SNEC 2015展会期间，欢迎业界先进莅临奇元裕展位E3-378及AET Technologies展位E3-903，一同交流前沿技术的专业知识、市场信息及行业发展趋势。

 

媒体焦点报导: 北极星太阳能光伏网; PVTech