TEG量测设备具备探针台以及半导体等级量测仪，适用于显示屏上的TEG进行电气特性(Tr,R,C)量测。

• 适用于液晶屏以及OLED屏。具OLED G6, G8销售实绩。
• 设备具高度整合性 : 业界唯一提供整合方案，整合与供应探针台以及半导体等级量测仪于一体
• 探针卡旋转设计 : 可降低量测所需时间与设备空间，也可量测多样的TRs。

• 探针台 : Stage, Gantry, Probe Head, Probe Card
• 量测仪 : SMU, CV, Switch Matrix
• 量测能力 : 

• Current	Range:+/-100mA Resolution:10fA
  Voltage	Range:+/-100V Resolution:20uV