為帶給客戶先進的技術,致力於亞太地區市場的領先高科技設備、材料及整合服務商—奇裕集團暨奇元裕公司於4月28日 SNEC展會中與AET Technologies共同籌辦研討會,除在會中AET Technologies所屬AET Solar Tech技術專家分享氧含量檢測技術及即時檢測機台設備Oxymap之外,也特別邀請到法國太陽能機構 (INES) 的首席研究專家說明快速量測氧含量的原理及掌握LID 光衰減的運用;此外,更帶領大家深入探討此一含氧檢測技術實際運用在AL-BSF & PERC的情形。包含晶圓製造及電池片重要業者皆與會出席,研討會現場交流熱烈。
近年來太陽能市場持續成長,在全世界市場需求的推動下,各家廠商紛紛投入資源開發新一代技術。然而對電池片製造商而言,取得有品質保障的晶圓往往受限於現有檢測技術與不利條件,例如特製的受測樣本及長久的檢測時間等。但隨著PERC的興起, LID光衰減的議題也愈受重視,有鑑於此,對晶圓中氧含量的快速有效檢測變得尤其重要。而AET Solar Tech 所提供的Oxymap 設備則可以直接檢測量產晶圓的氧含量並精準掌握LID光率減表現,研討會中受到業界熱烈迴響與肯定, 並高度期待未來可協助業界掌握晶圓品質、LID光衰減及LIR光還原的製程開發。
高效產品已是太陽能業者爭相追求的目標。奇裕暨奇元裕公司大中華區總經理簡聰明說:「感謝AET Technologies與奇裕公司一同介紹先進技術方案給予大中華區客戶。其Oxymap 氧含量檢測技術,肯定能協助客戶瞭解如何改善其產品及技術,進而提供高效產品;奇裕將持續提供客戶全方位的技術支援,並滿足客戶多元化的需求。」
SNEC 2015展會期間,歡迎業界先進蒞臨奇裕暨奇元裕展位E3-378及AET Technologies展位E3-903,一同交流先進技術的專業知識、市場新資訊及行業發展趨勢。