TEG量測設備具備有探針台以及半導體等級量測儀，適用於顯示面板上的TEG進行電氣特性(Tr,R,C)量測。

• 適用於液晶面板以及OLED面板。具OLED G6, G8銷售實績。
• 設備具高度整合性 : 業界唯一提供整合方案，整合與供應探針台以及半導體等級量測儀於一體
• 探針卡旋轉設計 : 可降低量測所需時間與設備空間，也可量測多樣的TRs。

• 探針台 : Stage, Gantry, Probe Head, Probe Card
• 量測儀 : SMU, CV, Switch Matrix
• 量測能力 : 

• Current	Range:+/-100mA Resolution:10fA
  Voltage	Range:+/-100V Resolution:20uV